米国Excel Precision社はスタンフォード大学アーサー・ショーロー教授(1981年ノーベル物理学賞受賞)のグループからスピンオフして設立されました。超高精度の変位測定と動作制御を必要とする研究および産業向けのレーザー干渉計システムの製造を専門としています。
高精度6DOFレーザー干渉計
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NIST/ISO準拠、最大6軸同時に簡単精密測定できるレーザー干渉計(変位計)
このレーザー干渉計システムでは、光学モジュールの組み合わせにより、単軸から最大6DOF(X、Y、Z、ピッチ、ヨー、ロール)を同時に高精度測定することができます。システムの設置やアライメントはとても簡単です。
また、オプションの環境センサーや屈折率計などで測定用レーザーの波長を補正し、精度をさらに向上させることが可能です。ウエハ・FPDステッパーなどの半導体製造装置、CNCマシンなど工作機械分野や、モーションシステムの変位測定や各国の標準研究機関など、5000件を超える納入実績があり、世界でディファクトスタンダートになっています。
製品特徴

2周波縦モード安定化ゼーマンレーザーと測定原理
He-Neレーザーに縦磁場をかけることで、ゼーマン効果を起こして2周波縦モードのレーザーを発振し、干渉測定では高い精度と再現性を実現できます。また2周波のビームは、干渉計内で測定用反射鏡の移動によるドップラーシフトを起こし、検知信号と基準信号の差で物体の移動速度を知ることができます。そして時間との積をプロセッサーで計算すると、瞬間で位置データを正確に測ることができます。またこのゼーマンレーザー干渉計は2MHzで参照光と測定光を分離している為、ターゲットが停止時はちょうど2MHz、ターゲットが移動すると周波数が変わるヘテロダイン方式を利用しており、非常に正確に測定できます。このゼーマンレーザー干渉計の利点としては1.レーザーリファレンスの周波数が正確、2.ヘテロダイン技術により2MHzで動作でき、低周波のノイズを除去することができます。
仕様
直線位置決め | 測定範囲:±5 m、精度:0.0005%(波長補正なし)、分解能10 nm |
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ヨーイング | 測定範囲:±3600アーク秒: ±5°(角度補正)、精度±0.2%(表示値より)、分解能:0.1アーク秒 |
ピッチング | 測定範囲:±3600アーク秒: ±5°(角度補正)、精度±0.2%(表示値より)、分解能:0.1アーク秒 |
ローリング | 測定範囲:±3000アーク秒: ±3°(角度補正)、精度±0.3%(表示値より)、分解能:0.5アーク秒 |
水平度 | 測定範囲:±500µm、精度:±2µm+0.5µm/m、分解能:0.5µm |
垂直度 | 測定範囲:±500µm、精度:±2µm+0.5µm/m、分解能:0.5µm |
振動 | 測定範囲:±500µm(X,Y,Z軸同時)、精度:±2µm+0.5µm/m、分解能:0.5µm |
データ平滑処理 | 10‐75秒間にセット可能(アプリケーションによる) |
オプション
※商品のデザイン、仕様は予告なく変更する場合がありますのでご了承ください。詳細は各営業担当までお問合せください。
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