レーザー、光源計測

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  UV対応可能なPSD

  ポジションセンサー　　Sitek　UV用PSD

  Sitek

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  小型ヘキサポッド/多軸ステージ！

  自動ステージ　PRECIBEO　ヘキサポッドステージ/多軸ステージ

  ストローク	XYZ±10mm,Θ(XYZ)±10°
  分解能	2nm
  最大速度	8mm/s(無負荷時)
  最大荷重	1kg

  PRECIBEO

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  ゼルニケ７次の項の補正が可能！

  最先端光学デバイス/アダプティブオプティクス　　Phaseform　 透過型デフォーマブルフェイズプレート(DPP)

  アパチャーサイズ	10㎜
  アクチュエーター数	63個
  透過率	>85% ※注 ARコート無し at 550nm
  サイズ	45.50 x 59.75 x 14.80 mm³
  重量	61g

  Phaseform

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  M2測定器にアップグレード可能なビームプロファイラー！

  ビームプロファイラー　 HAAS Laser Technologies ビームプロファイラー BA-CAM

  BA-CAMセンサー（標準タイプ）
  センサー	CMOS
  解像度	2048×2048
  画素サイズ	5.5×5.5µm
  実効エリア	11.26mmx11.26mm
  フレームレート	<50fps
  インターフェース	GigE RJ45
  サイズ	59.3mmx37.3mmx37.3mm
  重量	120g
  測定波長	190～1100nm

  HAAS Laser Technologies Inc.

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  レーザー用オプティクス　ミラー

  レーザー用オプティクス　　Autex　ミラー

  Autex

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  高精度リアルタイムパルス幅測定器FROG SCAN

  フェムト秒レーザー用パルス幅測定器 FROG SCAN

  オートコリレーター仕様
  対応波長	450nm-1800nm (1.8-3.4µmをご希望の場合はお問い合わせください）
  計測可能パルス幅	12fs-10ps
  分解能	<2fs
  オプティカルディレイ	1fs
  感度 (Pav・Ppk)	<0.1W2（Ultra : <0.01W2）
  入力ビームサイズ	2 – 4mm collimated
  サイズ	16cm × 30.5cm（Ultra : 30cm×30cm)
  解析ソフト	同梱

  Mesaphotonics

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  2次元PSD

  ポジションセンサー　　Sitek　2軸ポジションセンシングディテクター（デモ機あり）

  Model	2L2	2L4	2L10	2L20	2L45
  有効受光面サイズ (mm)	2.0×2.0	4.0×4.0	10×10	20.0×20.0	45.0×45.0
  波長特性(nm)	400 – 1100 / 190 – 1100
  応答速度(ns)	30	80	400	1600	7000
  暗電流(nA)	50	50	100	200	400
  ノイズ電流(pA/Hz)	1.3	1.3	1.3	1.5	1.5
  接合容量(pF)	7	20	90	360	1600

  Sitek

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  1次元PSD

  ポジションセンサー　　Sitek　1軸ポジションセンシングディテクター（デモ機あり）

  Model	1L2.5	1L5	1L10	1L20	1L30	1L45	1L60
  有効受光面サイズ (mm)	2.5×0.6	5.0×1.0	10×2.0	20.0×3.0	30.0×4.0	45.0×3.0	60×3.0
  波長特性(nm)	400 – 1100 / 190 – 1100
  応答速度(ns)	30	50	200	500	1000	2700	4500
  暗電流(nA)	2	4	8	60	150	110	150
  ノイズ電流(pA/Hz)	0.4	0.4	0.4	0.5	0.7	0.4	0.4
  接合容量(pF)	1.6	5	15	45	90	105	135

  Sitek

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  COVID-19やその他の感染症用に病院や医療施設で使われる紫外線消毒装置の管理・開発用の照度測定システムです。リモート測定が可能です。

  紫外線消毒装置管理・開発用の照度測定システム

  詳細はお問い合わせください。

  International Light Technologies

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  評価用に最適なマウント付き2次元PSD

  ポジションセンサー　　Sitek　マウントホルダ付き2軸ポジションセンシングディテクター（デモ機あり）

  Model	2L2	2L4	2L10	2L20	2L45
  有効受光面サイズ (mm)	2.0×2.0	4.0×4.0	10×10	20.0×20.0	45.0×45.0
  波長特性(nm)	400-1100/190-1100
  応答速度 (ns)	30	80	400	1600	7000
  暗電流 (nA)	50	50	100	200	400
  ノイズ電流 (pA/Hz)	1.3	1.3	1.3	1.5	1.5
  接合容量 (pF)	7	20	90	360	1600

  Sitek

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  評価用に最適なマウント付き1次元PSD

  ポジションセンサー　　Sitek　マウントホルダ付き1軸ポジションセンシングディテクター（デモ機あり）

  Model	1L2.5	1L5	1L10	1L20	1L30	1L45	1L60
  有効受光面サイズ (mm)	2.5×0.6	5.0×1.0	10×2.0	20.0×3.0	30.0×4.0	45.0×3.0	60.0×3.0
  波長特性(nm)	400-1100/190-1100
  応答速度 (ns)	30	50	200	500	1000	2700	4500
  暗電流 (nA)	2	4	8	60	150	110	150
  ノイズ電流 (pA/Hz)	0.4	0.4	0.4	0.5	0.7	0.4	0.4
  接合容量 (pF)	1.6	5	15	45	90	105	135

  Sitek

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  NISTトレーサブル/ISO17025の国際標準規格で校正された世界最高レベルの高精度照度計

  照度計　　International Light Technologies　ILT2400/ILT2500（デモ機あり）

  ILT2400	連続光測定用照度計（メーター本体）
  測定範囲	電流値：50ｐA-１mA
  測定速度	最速100µs
  ダイナミックレンジ	8桁（光学センサー
  メモリ	４GB内蔵

  ILT2500	連続光＋パルス光測定用照度計（メーター本体）
  測定範囲	5pA-1mA
  測定速度	最速100µs
  ダイナミックレンジ	9桁（光学センサー）
  メモリ	４GB内蔵

  International Light Technologies

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  NISTトレーサブル/ISO17025の国際標準規格で校正された世界最高レベルの高精度照度計

  照度計　　International Light Technologies　ILT1000 Broadband (200-1100nm)　

  ILT1254	UVC（249-259 nm)
  ILT1320	UV (200-320 nm)
  ILT1005	UV-VIS (250-675 nm)
  ILT1000	Broadband (200-1100 nm)
  ILT1007	IR (850-1700 nm)

  ダイナミックレンジ	6桁
  測定時間	最速20µｓ
  動作温度	-40～85℃
  インターフェース	USB（USB2)接続、ワイヤレス、PLC接続

  International Light Technologies

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  UV硬化プロセスをダイレクトに計測。UV硬化プロセス開発・品質管理用のNISTトレーサブルUV照度計

  照度計　　International Light Technologies　ILT800 Curelight

  波長帯域	266nm～1650nm 各種
  バンド幅	<0.5nm- 10nm
  透過率	>90%(波長やその他の性能に依存）

  International Light Technologies

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  水処理、飲料水、食品工業、食品衛生、医薬品製造などで、UV-Cを使った殺菌装置や処理槽内の任意の場所のUV-C放射照度（W/㎡, W/㎠）や照度（Lux)をダイレクトに測定できます。

  照度計　　International Light Technologies　水中UV-C光測定プローブ

  受光器寸法	60㎜ x φ42㎜
  ケーブル長	15メートル

  International Light Technologies

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  高速・高感度・広帯域ディテクター

  パワーモニター　greenTEG　ｇO, gSKIN

  greenTEG

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  計測対象に貼るだけで高速、精密に熱抵抗、熱透過率計測

  熱抵抗計測計　　greenTEG　ｇO, gOMS

  greenTEG

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  高精度リアルタイムパルス幅測定器FROG SCAN

  オートコリレーター/フロッグ　　Mesaphotonics　パルス幅測定器

  オートコリレーター仕様
  入力波長域	検出器一覧表から選択
  計測可能パルス幅	<15fs-12ps
  最大画面表示時間域	30ps
  時間分解能	<2fs
  光学遅延ステップ	1fs
  リアルタイム感度	～1W2(I peak I ave)
  平均感度	<0.1W2(I peak I ave)
  入力ビームサイズ	2 – 4mm collimated
  入力偏光方向	水平もしくは垂直偏光
  データ収集スピード	～200 points per second
  サイズ	16cm × 30.5cm
  解析ソフト	標準装備

  検出器一覧表
  Detector for Autocorrelator	Approximate Wavelengty Range
  GUVC	290nm – 560nm
  GUVB	330nm – 640nm
  GUVA	390nm – 740nm
  GUVV	410nm – 800nm
  GVGR	580nm – 1080nm
  G1115	700nm – 1330nm
  Si	1200nm – 2000nm
  INGAAS1	1800nm – 3400nm

  Mesaphotonics

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  世界初、透過型アダプティブレンズ

  最先端光学デバイス/アダプティブオプティクス　　Dynamic optics　透過型アダプティブレンズ/シャックハルトマンセンサー

  アパチャーサイズ	10－16-23㎜ カスタム5-30mm可
  レスポンスタイム	<5ms

  Dynamic optics

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  ロースペックル半導体レーザー

  ロースペックルレーザー　　Pavilion Integration Corporation　ローノイズ半導体レーザー（デモ機あり）

  波長	375nm～1500nm
  出力	1mW～5W

  Pavilion Integration Corporation

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  M²のリアルタイム計測を実現！

  レーザービームアナライザーシステム　　HAAS Laser Technologies　（M²測定器）（デモ機あり）

  BWA-CAM

  測定M2値	1～40（実績値）
  主なリアルタイム測定データ	M2、BPP、ビーム径、レーリーレンジ
  ビーム径	50～2000 µm（2Mピクセルカメラ使用）
  波長	325～1100 nm
  測定パワー（最大）	CW：30 kW @ 1075 nm（実績値）、パルス：1 GW/cm2 @ 800 nm　＊外部アッテネーター使用
  主な機能	3D表示、自動レポート作成、QCチェック、ログ記録
  インターフェース	ギガビットイーサネット
  エクスポートデータ	データシート、RAWデータ
  計測時間	40～166 msec（PC性能による）
  繰り返し測定精度	< ±0.5%
  キャリブレーション	自動 or ユーザーによる手動

  HAAS Laser Technologies Inc.